首页> 外文OA文献 >Process Control in IC Manufacturing with Thermal Waves
【2h】

Process Control in IC Manufacturing with Thermal Waves

机译:热波在集成电路制造中的过程控制

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

In today’s semiconductor market, manufacturers face a daunting challenge. Product concepts evolve rapidly in response to rapidly changing markets while design rules, i.e., device geometries, become increasingly smaller and wafers become larger. Devices must run faster, reliability must improve and the resultant increasing complexity in IC design and fabrication technology intensifies the need for tighter controls of process variables. To compete effectively in this market, manufacturers must improve both product development and product manufacturing processes.
机译:在当今的半导体市场中,制造商面临着艰巨的挑战。产品概念随着快速变化的市场而迅速发展,同时设计规则(即器件几何形状)变得越来越小,晶圆变得越来越大。器件必须运行得更快,可靠性必须提高,并且随之而来的IC设计和制造技术复杂性的增加也要求对工艺变量进行更严格的控制。为了在这个市场上有效竞争,制造商必须改善产品开发和产品制造流程。

著录项

  • 作者

    Rosencwaig, Allan;

  • 作者单位
  • 年度 1990
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号